手机闪存寿命测试方法

手机闪存寿命测试可通过连续写入大量数据来实现。测试设备每天写入100GB数据，记录闪存性能变化。当写入速度下降到初始值的70%或出现坏块时，测试结束。专业测试工具如CrystalDiskMark可监测健康状态，实际测试显示，优质闪存可承受3000次擦写循环。高温环境测试(40°C)能加速老化过程，缩短测试周期。测试期间需监控读写延迟、IOPS性能等关键指标。

闪存寿命评估还包含压力测试和极限条件测试。设备在零下10°C至85°C温度循环中运行，模拟极端环境使用。写入不同大小文件(1KB、1MB、1GB)能全面测试闪存性能表现。测试结果显示，连续写入比随机写入更消耗闪存寿命。测试结束后，分析SMART数据中的磨损计数和剩余寿命信息，可准确预测闪存实际使用寿命。