液膜的厚度测量方法

液膜厚度测量有多种实用方法。激光干涉法利用光波干涉原理，通过测量干涉条纹数量确定厚度，精度可达纳米级。X射线反射技术适合极薄薄膜，通过分析反射强度曲线计算厚度。超声波测厚仪发射高频声波，通过回波时间差计算厚度，适用于金属和非金属材料。电容法测量电极间电容变化，精度高但需校准。椭圆偏振法利用偏振光反射变化，适合透明薄膜测量，精度达亚纳米级。

光学显微镜直接观察膜层轮廓，配合图像分析软件测量厚度。接触式轮廓仪使用探针扫描表面，记录高度变化确定膜厚。白光干涉仪通过分析干涉光谱计算厚度，范围从纳米到毫米。原子力显微镜可测量纳米级薄膜，精度极高。磁感应法适用于磁性材料膜厚测量，通过磁场变化推算厚度。这些方法各有优势，选择时需考虑材料特性、精度要求和测量环境。