afm可以看高度和粗糙度吗

AFM确实能够测量样品表面的高度和粗糙度。这种显微镜通过探针与样品表面的相互作用，可以精确记录纳米级别的起伏变化。高度测量范围可达数微米，分辨率达到亚纳米级别。粗糙度分析包括Ra、Rq、Rmax等多种参数，可直接获得表面形貌的三维图像。许多材料如金属薄膜、半导体、生物样品的高度和粗糙度都通过AFM进行了精确表征。

AFM在高度和粗糙度测量中具有独特优势。它不需要特殊样品制备，可在空气、液体等多种环境下工作。与其他技术相比，AFM不受样品导电性限制，可测量绝缘材料。仪器操作相对简单，数据采集速度快，一台设备可同时获得形貌、相位、粘附力等多种信息。科研和工业领域广泛应用AFM进行质量控制和研究开发，确保产品表面达到精确要求的粗糙度标准。