晶振老化率测试方法

晶振老化率测试需要长期监测频率变化。实际测试中，设备连续运行1000小时记录初始频率，再运行10000小时后比较数据。高精度测试仪能检测到0.001ppm的微小变化。恒温槽环境控制在25±0.1℃确保结果准确。测试样本数量至少20个，取平均值排除个体差异。老化率计算公式为(Δf/f0)/t，其中Δf是频率变化量，f0是初始频率，t是测试时间。

测试环境稳定性直接影响结果可靠性。专业实验室使用多层屏蔽室防止电磁干扰，电源纹波控制在0.1mV以下。测试前设备预热24小时达到热平衡。不同温度点测试能验证晶振温度特性，-40℃到85℃范围内每10℃测一次。加速老化测试通过提高温度至125℃进行，按阿伦尼斯方程推算常温寿命。测试数据需用最小二乘法拟合，确保线性回归相关系数超过0.99。