干涉条纹移动方向的判断依据

干涉条纹移动方向取决于光程差的变化。当光程差增加时，条纹向外扩展；光程差减小时，条纹向内收缩。双缝干涉中，缝间距增大导致条纹变密，移动方向向外；波长变长则条纹变疏，方向向内。薄膜干涉中，膜厚增加引起条纹向外移动，膜厚减少则向内移动。这些现象可通过光程差公式Δ=2d·cosθ直接判断，d代表膜厚或缝距，θ为入射角。

干涉条纹移动还与光源位置和观察角度有关。光源靠近装置时，条纹向外扩展；远离时向内收缩。牛顿环实验中，平凸透镜上移导致环向外扩散，下移则环向内收缩。迈克尔逊干涉仪中，反射镜移动方向决定条纹移动方向，向光程增加方向移动时条纹向外，反之向内。这些规律在光学测量中广泛应用，如测量微小位移或折射率变化。