碳硅的分析方法

碳硅材料分析有多种实用方法。X射线荧光光谱法可快速测定元素组成，检测限达ppm级。电子显微镜结合能谱分析能观察微观结构，分辨率达0.1纳米。激光诱导击穿光谱技术适合现场检测，单次分析仅需几秒钟。原子吸收光谱法测定金属元素，精密度可达0.001毫克。红外光谱分析分子结构，波数范围4000-400cm⁻¹覆盖多数有机官能团。

碳硅材料性能测试包括硬度测量、热重分析和电化学测试。洛氏硬度计测量材料表面硬度，HRC范围覆盖大多数工程材料。热重分析仪在20-1000℃温度范围内研究热稳定性。电化学工作站测试导电性，电流测量范围±10安培。拉伸试验机测定力学性能，最大载荷可达100千牛。这些方法为材料研发提供全面数据支持。