什么可以代替检测探针

半导体测试中，激光扫描系统可替代传统探针，通过非接触方式检测芯片表面缺陷。这种技术能精确识别微小裂纹和电特性异常，适用于高密度封装器件。工业检测领域，机器视觉系统配备高分辨率相机，能快速识别产品尺寸和表面缺陷，检测速度可达每分钟200件以上，大幅提升生产效率。

微波测试环境里，射频天线阵列能替代物理探针，实现无线信号采集和分析。这种方案避免了机械接触带来的信号衰减问题，测试频率覆盖范围可达110GHz。医疗设备检测中，超声波传感器可替代侵入式探针，通过声波反射成像技术，安全获取人体内部结构数据，检测深度可达15厘米，广泛应用于无创诊断。